測量型電子內(nèi)窺鏡在裂紋檢測中的應(yīng)用-韋林工業(yè)內(nèi)窺鏡
裂紋是工業(yè)內(nèi)窺鏡檢測過程中非常常見的一種缺陷，發(fā)動機(jī)葉片、燃燒室、容器壁、管道、建筑物等都可能有裂紋。裂紋指材料在應(yīng)力或環(huán)境（或兩者同時(shí)）作用下產(chǎn)生的裂隙，細(xì)微裂隙在應(yīng)力和/或環(huán)境的作用下，會經(jīng)歷裂紋擴(kuò)展的過程，并且達(dá)到一定程度，甚至造成材料的斷裂。裂紋起初都是不起眼的，但是任由其發(fā)展，則可能產(chǎn)生難以想象的后果。測量型電子內(nèi)窺鏡不僅可以檢出裂紋，而且可以測量裂紋的長度及深度，輔助評估裂紋的嚴(yán)重度。
首先，以韋林工業(yè)內(nèi)窺鏡Mentor Visual iQ（MViQ）為例，看看電子內(nèi)窺鏡在裂紋缺陷檢測中的應(yīng)用。MViQ具有集觀察和測量功能一體的前視廣角鏡頭，而且具有優(yōu)秀的純電動伺服電機(jī)驅(qū)動導(dǎo)向功能，這些都給查找和測量裂紋缺陷帶了極大的便利。檢測過程中，為了確保檢測無遺漏，可以合理運(yùn)用電子內(nèi)窺鏡的探頭導(dǎo)向功能，先采用粗調(diào)模式，在被檢區(qū)域中大范圍搜素存在疑似裂紋的部位，一旦找到疑似部位，可以通過電控伺服電機(jī)的轉(zhuǎn)動角度達(dá)到鎖定導(dǎo)向角度的目的，然后以微調(diào)模式繼續(xù)精準(zhǔn)接近疑似缺陷，進(jìn)一步仔細(xì)觀察確認(rèn)裂紋缺陷。
在檢出裂紋缺陷后，需要對裂紋長度及深度進(jìn)行測量，既有助于評估裂紋的狀態(tài)，也可以留存檔案以便后續(xù)監(jiān)控裂紋的發(fā)展速度。本文重點(diǎn)介紹裂紋長度的測量。使用MViQ可以在發(fā)現(xiàn)裂紋的第一時(shí)間，即刻開始測量，不用更換鏡頭。可以采用相位掃描三維立體測量法或者雙物鏡三維立體測量法，裂紋長度的測量原理，就是測量選定的光標(biāo)點(diǎn)之間的直線距離。
裂紋長度測量的操作相對簡單，但是要想提高測量精度，應(yīng)充分發(fā)揮測量技術(shù)的優(yōu)勢，并注意以下實(shí)踐要點(diǎn)：
1. 利用三維點(diǎn)云圖，確保測量光標(biāo)放在正確位置，避免光標(biāo)位置不在測量平面，造成測量誤差；
2. 在焦距范圍內(nèi)探頭盡可能接近測量目標(biāo)，同時(shí)保證測量區(qū)域置于屏幕中央；
3. 注意橙色警告標(biāo)志，確保在最佳測量距離內(nèi)進(jìn)行測量；
4. 開始相位掃描三維立體測量或雙物鏡三維立體測量時(shí)，為保證光標(biāo)放在準(zhǔn)確的測量位置，需先得到一個(gè)清晰圖像；
5. 當(dāng)光標(biāo)位置處于不能測量的紅色區(qū)域或出現(xiàn)影響測量結(jié)果的3D噪點(diǎn)時(shí)，結(jié)合測量平面進(jìn)行測量。
測量裂紋的長度，是測量型電子內(nèi)窺鏡的一種常見的檢測應(yīng)用，這種技術(shù)還可以應(yīng)用于零件和缺陷的一般測量，測量侵蝕、腐蝕或磨損后零件尺寸大小，測量磨損零件剩余尺寸大小，以及測量某一位置或區(qū)域的缺陷尺寸等。
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